Journal de Physique III

Vol. 2 No. 12 (December 1992)

• Possiblités de mesure quantitative avec un appareillage de réflectométrie X utilisant le mode angulaire dispersif     p. 2291
  J. Chihab and A. Naudon
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• Hydrogenation of GaAs covered by GaAlAs and subgrain boundary passivation     p. 2301
  A. Djemel, J. Castaing, J. Chevallier and P. Henoc
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• An interdigital gate MOSFET for photodetection     p. 2309
  F. Hobar, S. Laval, D. Pascal and F. Kerrour
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• Régimes transitoires des photopiles : durée de vie des porteurs et vitesse de recombinaison     p. 2317
  P. Mialhe, G. Sissoko, F. Pelanchon and J. M. Salagnon
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• Mécanismes de croissance épitaxiale en phase vapeur aux organo-métalliques de InP     p. 2333
  P. Cova, R. A. Masut and J. F. Currie
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• Accumulated space-charge in stationary- and steady-state     p. 2349
  Z. T. Kuznicki
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• Measurement of active species in a flowing oxygen electron beam generated plasma     p. 2373
  K. Sahli and A. M. Pointu
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• Influence des défauts de la structure du verre sur la résistance mécanique des fibres optiques     p. 2387
  A. Chmel, V. V. Baptizmanski and A. A. Kharshak
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• Mise au point et étalonnage d'anémomètres à thermistor pour la mesure de faibles vitesses d'écoulement d'air     p. 2397
  M. Aubinet, M. Yernaux and J. Deltour
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