Journal de Physique III

Vol. 3 No. 7 (July 1993)

• Picosecond investigation of photorefractive and free carrier gratings in GaAs: EL2 and CdTe: V     p. 1291
  Philippe Delaye, Kestutis Jarasiunas, Jean-Claude Launay and Gérald Roosen
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• Mapping of dopant concentrations in photorefractive InP: Fe wafers     p. 1305
  C. Ozkul, M. A. Abdelghani-Idrissi, S. Jamet, P. Gravey and G. Picoli
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• Index gratings stabilized by deep centres for fast optical addressing     p. 1313
  N. Gouaichault-Brugel, M. Pugnet and J. H. Collet
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• Assessment of deep levels in photorefractive materials by transient photoelectric methods     p. 1327
  J. P. Zielinger and M. Tapiero
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• Roll and hexagonal patterns in a phase-contrast oscillator     p. 1345
  Gilbert Grynberg
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• Noise reduction in photorefractive image amplifiers and applications     p. 1357
  J.-P. Huignard and H. Rajbenbach
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• Generation of coherent wavefronts and images inside laser resonators     p. 1369
  M. Vampouille, B. Colombeau, V. Kermene, P. Martin and C. Froehly
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• Smectic A and C* liquid crystal light valves     p. 1381
  L. Dupont, Z. Y. Wu, P. Cambon and J. L. de Bougrenet de la Tocnaye
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• Optimization of an ultrafast OASLM using photoexcitations in organic thin films : the incoherent-to-coherent conversion efficiency of spectral concentration     p. 1401
  Jean-Michel Nunzi, Fabrice Charra and Nicola Pfeffer
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• Coherence modulation and correlation of stochastic light fields     p. 1413
  Jean-Pierre Goedgebuer, Henri Porte and Pascal Mollier
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• The effects of the finite spatial resolution of thermoplastic recording materials on the holographic image     p. 1435
  István Bányász
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• Photopolymers for holographic recording : from standard to self-processing materials     p. 1445
  C. Carré and D. J. Lougnot
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• Hystérésis d'alliages thermoélastiques, étude comparative de quelques modèles de comportement des alliages à mémoire de forme     p. 1463
  C. Lexcellent, V. Torra and B. Raniecki
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• Détermination des épaisseurs de films très minces de SiO sur silicium par microscopie électronique en transmission, ellipsométrie spectroscopique et spectroscopie de photoélectrons     p. 1479
  R. Saoudi, G. Hollinger, A. Gagnaire, P. Ferret and M. Pitaval
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• Mesure du coewicient d'absorption optique dans le silicium multicristallin de type P pour photopiles solaires     p. 1489
  J. Gervais
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• Calcul des effets thermiques induits par un dispositif optique permettant de condenser un faisceau laser de puissance en une tache rectangulaire     p. 1497
  Li Junchang, C. Renard and J. Merlin
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• Incertitude dans les mesures de courant : un obstacle dans la caractérisation des composants en électronique de puissance     p. 1509
  E. Farjah, J. Barbaroux and R. Perret
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• A method for comparison of discrete spectra     p. 1525
  L. T. Tsankov
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• Diffusion thermique et de porteurs de courant au voisinage d'un joint de grain     p. 1531
  F. Lepoutre
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• A method for formulating realistic mathematical models based on arterial casts for the computational fluid mechanical studies on arterial flow and atherosclerosis     p. 1551
  A. Sakurai, T. Yamaguchi, H. Okino, S. Hanai and M. Masuda
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