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J. Phys. III France
Volume 3, Numéro 12, December 1993
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Page(s) | 2287 - 2297 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1993275 |
J. Phys. III France 3 (1993) 2287-2297
Détermination du profil de modulation des réseaux holographiques de phase
S. Mechahougui, J. Harthong and A. MedjahedUniversité Louis Pasteur, École Nationale Supérieure de Physique, Laboratoire des Systèmes Photoniques, 7 rue de l'université, 67084 Strasbourg Cedex, France
(Reçu le 26 avril 1993, révisé le 9 juillet 1993, accepté le 9 septembre 1993)
Abstract
The complete knowledge of the geometrical and physic-chemical parameters
of a periodically modulated volume material, permits the determination
of the diffraction picture. Such a purely mathematical and numerical
determination is of great scientific and technological interest.
The modulation profile (given by its Fourier coefficients) is one of
these parameters. It can be determinated a posteriori only by the
measurement of the different diffracted intensities at different orders.
Starting from this idea, we can achieve a new method (theoritically exact)
which permits the study of the diffraction of an electromagnetic plane wave
by a dielectric grating. This method leads to the numerical treatment
of ordinary differential equation with variable - by periodic - coefficients.
The method is presented here for the classical case of a wave with electric
polarization parallel to the grating. For the analysis of the modulation profile,
we have considered realistic models of profiles, contrary to the current models,
which have only a numerical existence. In order to achieve our experimental work,
we have developed two experimental set-up: the first for the recording and the
second for the analysis of diffractive elements. The whole set-up can be directed
with the aid of a software from a personal computer. The validity of results
are discussed.
Résumé
La connaissance parfaite des paramètres géométriques et physico-chimiques
d'un matériau de volume modulé périodiquement, donne une bonne connaissance
de la figure de diffraction. Celle-ci a une grande importance scientifique
et technologique. Le profil de modulation (donné par ses coefficients de Fourier)
est l'un de ces paramètres qui ne peut être déterminé a posteriori qu'à partir
de la répartition d'intensité entre les différents ordres. A partir de cette idée,
nous avons établi une méthode exacte permettant l'étude de la diffraction d'une
onde plane électromagnétique par un réseau diélectrique, qui conduit au traitement
numérique d'une équation différentielle à coefficients variables. La méthode est
donnée pour le cas classique où le champ électrique est parallèle au plan du réseau.
Pour analyser l'influence du profil de modulation, on considère des modèles
mathématiques réalistes et non (comme il est courant dans la littérature)
des modèles physiques irréalisables. Pour notre travail expérimental nous avons
mis au point deux montages : le premier pour l'enregistrement et le second
pour l'analyse. Ce dernier est totalement automatisé et piloté par un ordinateur.
Les résultats obtenus sont largement discutés.
© Les Editions de Physique 1993