SiO$_{2}$/Si Interfacial Degradation and the Role of Oxygen Interstitials p. 1569 R.A.B. Devine DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996203 RésuméPDF (1.656 MB)Références
The Photorefractive Bragg Gratings in the Fibers for Telecommunications p. 1595 B. Poumellec et F. Kherbouche DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996204 RésuméPDF (1.887 MB)Références
An Overview of Buried Oxides on Silicon: New Processes and Radiation Effects p. 1625 Jean-Luc Leray, Philippe Paillet et Jean-Luc Autran DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996205 RésuméPDF (1.603 MB)Références
Ultrafast Optical Measurements of Defect Creation in Laser Irradiated SiO$_{2}$ p. 1647 Guillaume Petite, Philippe Daguzan, Stéphane Guizard et Philippe Martin DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996102 RésuméPDF (2.148 MB)Références
Amorphization of $\alpha$-Quartz under Irradiation p. 1677 L. Douillard et J.P. Duraud DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996206 RésuméPDF (789.1 KB)Références
Electrical Properties of Silver Impurities and their Annealing Behaviour in p-Type Fz Silicon p. 1691 G.A. Adegboyega, L. Passari, M.A. Butturi, A. Poggi et E. Suzi DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996207 RésuméPDF (409.0 KB)Références
Improvement of the Electrical Properties of Layered Semiconductor Thin Films by Iodine Treatment p. 1697 J.C. Bernede, H. Hadouda, S.J. Li, H. Essaidi, J. Pouzet et A. Khelil DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996208 RésuméPDF (506.7 KB)Références
Transient Photo Conductivity Decay Study on Polycrystalline Silicon p. 1705 V. Subramanian et J. Sobhanadri DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996209 RésuméPDF (719.9 KB)Références
Méthode de mesure optique sans-contact appliquée à l'analyse des vibromoteurs résonnants p. 1719 A. Ferreira, P. Le Moal et P. Minotti DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996210 RésuméPDF (752.4 KB)Références
Analyse par méthode analytique du comportement d'un générateur à induction à triode haute fréquence pour torche à plasma inductif p. 1733 Roland Ernst DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996211 RésuméPDF (1.308 MB)Références
Actionneurs miniatures à alliages à mémoire de forme fabriqués par microstéréophotolithographie p. 1759 S. Ballandras, M. Calin, S. Zissi, A. Bertsch, J.C. André, A. Bourjault et D. Hauden DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996212 RésuméPDF (871.2 KB)Références
Inter-Strand Coupling Losses in Superconducting Power Cables Without Coaxial Magnetic Shielding p. 1775 S. Stenger, P. Manuel et F. Bouillault DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996213 RésuméPDF (487.9 KB)Références
Modélisation d'une machine asynchrone par réseaux de perméances en vue de sa commande p. 1785 C. Delforge-Delmotte et B. Lemaire-Semail DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996214 RésuméPDF (1.181 MB)Références
I. Rheology of Weakly Flocculated Suspensions of Rigid Particles p. 1811 P. Snabre et P. Mills DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996215 RésuméPDF (1.510 MB)Références
II. Rheology of Weakly Flocculated Suspensions of Viscoelastic Particles p. 1835 P. Snabre et P. Mills DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996216 RésuméPDF (1.223 MB)Références
Accès gratuit Erratum Erratum Nouvelle méthode de quantification des orientations cristallines par figures de pôles haute résolution et ultra-rapides p. 1857 R.Y. Fillit, F. Duchemin et J.M. Becker DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1996217 RésuméPDF (67.00 KB)
