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Depth resolved nonlinear optical nanoscopy

W. Luis Mochán, Catalina López‐Bastidas, Jesús A. Maytorena, Bernardo S. Mendoza and Vera L. Brudny
physica status solidi (b) 240 (3) 527 (2003)
https://doi.org/10.1002/pssb.200303860

Fluorescence SNOM of domain structures of LB films containing electron transfer systems

A.K Kirsch, C.K Meyer, H Huesmann, D Möbius and T.M Jovin
Ultramicroscopy 71 (1-4) 295 (1998)
https://doi.org/10.1016/S0304-3991(97)00059-4

Polarization contrast in fluorescence scanning near-field optical reflection microscopy

A. Jalocha and N. F. van Hulst
Journal of the Optical Society of America B 12 (9) 1577 (1995)
https://doi.org/10.1364/JOSAB.12.001577

Reflection scanning microscope: influence of the distance and the orientation between the fiber and the sample

N. Cerre, F. de Fornel and J. P. Goudonnet
Journal of the Optical Society of America A 10 (9) 1909 (1993)
https://doi.org/10.1364/JOSAA.10.001909

Ordered Intermetallics — Physical Metallurgy and Mechanical Behaviour

A. Bartels and H. Mecking
Ordered Intermetallics — Physical Metallurgy and Mechanical Behaviour 663 (1992)
https://doi.org/10.1007/978-94-011-2534-5_42

Detection of nonradiative fields in light of the Heisenberg uncertainty principle and the Rayleigh criterion

J. M. Vigoureux and D. Courjon
Applied Optics 31 (16) 3170 (1992)
https://doi.org/10.1364/AO.31.003170