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Article cité :

Mapping of dopant concentrations in photorefractive InP: Fe wafers

C. Ozkul, M. A. Abdelghani-Idrissi, S. Jamet, P. Gravey, G. Picoli

J. Phys. III France, 3 7 (1993) 1305-1312

DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1993200

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Références

Citations de cet article :

Comment on “Purely optical measurement of the resistivity distribution of semi-insulating InP:Fe by means of the photorefractive effect” [Appl. Phys. Lett. 67, 392 (1995)]

C. Özkul
Applied Physics Letters 70 (8) 1055 (1997)
https://doi.org/10.1063/1.118440