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Article cité :

The effect of microstructure on the temperature dependence of the interlayer coupling in Co/Cu multilayers

C. Christides
Journal of Applied Physics 88 (6) 3552 (2000)
https://doi.org/10.1063/1.1289227

In situx-ray reflectivity study of the oxidation kinetics of liquid gallium and the liquid alloy

Anton Plech, Uwe Klemradt, Hartmut Metzger and Johann Peisl
Journal of Physics: Condensed Matter 10 (5) 971 (1998)
https://doi.org/10.1088/0953-8984/10/5/007

Structural, magnetotransport, and optical properties of sputtered Co/Cu multilayers examined as a function of Co layer thickness at the second antiferromagnetic maximum

C. Christides, S. Logothetidis, M. Gioti, et al.
Journal of Applied Physics 83 (12) 7757 (1998)
https://doi.org/10.1063/1.367950

Glancing‐incidence x‐ray analysis of thin‐layered materials: A review

D. K. G. de Boer, A. J. G. Leenaers and W. W. van den Hoogenhof
X-Ray Spectrometry 24 (3) 91 (1995)
https://doi.org/10.1002/xrs.1300240304