Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces

W. Plotz, V. Holy, W. V. D. Hoogenhof, K. Lischka

J. Phys. III France, 4 9 (1994) 1565-1571

DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1994223

Citations de cet article :

X-ray diffuse scattering by multilayer waveguide structures

A. Andreev, Yu. Ponomarev, I. Prudnikov and N. Salashchenko
Physical Review B 57 (20) 13113 (1998)
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.57.13113

Resonance enhancement of diffuse scattering of x-rays in a waveguide heterostructure

A. V. Andreev, Yu. V. Ponomarev, I. R. Prudnikov and N. N. Salashchenko
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters 66 (4) 236 (1997)
https://doi.org/10.1134/1.567460

Scattering of X-rays and neutrons at interfaces

S. Dietrich and A. Haase
Physics Reports 260 (1-2) 1 (1995)
https://doi.org/10.1016/0370-1573(95)00006-3

An investigation of X-ray reflectivity and diffraction from electroluminescent short-period Si-Ge superlattice structures

W M Plotz, E Koppensteiner, H Kibbel, et al.
Semiconductor Science and Technology 10 (12) 1614 (1995)
https://doi.org/10.1088/0268-1242/10/12/009