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Article cité :

Mesure de la conductivité complexe et de la résistance de surface de films supraconducteurs YBaCuO

F. Mehri, P. Lepercq, J. C. Carru, E. Playez, C. Thivet, A. Perrin, D. Chambonnet

J. Phys. III France, 4 11 (1994) 2259-2270

DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1994276

Citations de cet article :

Growth and characterization of HTSC thin films for microelectronic devices

A. Perrin, M. Guilloux-Viry, X. Castel and C. Le Paven-Thivet
Microelectronics Journal 27 (4-5) 343 (1996)
https://doi.org/10.1016/0026-2692(95)00061-5