Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Determination of Low-Energy Ion Implantation Damage Parameters by an Ellipsometric Method

U. Müller-Jahreis, P. Thiele, M. Bouafia, A. Seghir

J. Phys. III France, 5 5 (1995) 575-584

DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995147

Citations de cet article :

Room temperature bonding of SiO2 and SiO2 by surface activated bonding method using Si ultrathin films

Jun Utsumi, Kensuke Ide and Yuko Ichiyanagi
Japanese Journal of Applied Physics 55 (2) 026503 (2016)
https://doi.org/10.7567/JJAP.55.026503

Comparison of oxide leakage currents induced by ion implantation and high field electric stress

D Goguenheim, A Bravaix, C Monserie, et al.
Solid-State Electronics 45 (8) 1355 (2001)
https://doi.org/10.1016/S0038-1101(00)00265-3