Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Detection of traps induced and activated by high field stress in an N-channel VDMOSFET transistor using current deep level transient spectroscopy (CDLTS)

N. Abboud, Y. Cuminal, A. Foucaran and C. Salame
Microelectronic Engineering 88 (11) 3333 (2011)
https://doi.org/10.1016/j.mee.2011.08.008

 Semi-insulating  silicon using deep level impurity doping: problems and potential

Kanad Mallik, R J Falster and P R Wilshaw
Semiconductor Science and Technology 18 (6) 517 (2003)
https://doi.org/10.1088/0268-1242/18/6/321