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Revealing of defects in CdTe crystals by DSL etching
F. Bissoli, J. L. Weyher, A. Zappettini, M. Zha and L. Zanotti Crystal Research and Technology 40(10-11) 1060 (2005) https://doi.org/10.1002/crat.200410486
Electron-beam-induced current observed for dislocations in diffused 4H-SiC P–N diodes
S. Maximenko, S. Soloviev, D. Cherednichenko and T. Sudarshan Applied Physics Letters 84(9) 1576 (2004) https://doi.org/10.1063/1.1652229
Study of defects in conformal GaAs/Si layers by optical techniques and photoetching
Selective photoetching and transmission electron microscopy studies of defects in heteroepitaxial GaN
J. L. Weyher, F. D. Tichelaar, H. W. Zandbergen, L. Macht and P. R. Hageman Journal of Applied Physics 90(12) 6105 (2001) https://doi.org/10.1063/1.1416137