Détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X dans une couche mince de 1 000 Å de tungstène K. F. Badawi, A. Declémy, A. Naudon et Ph. GoudeauJ. Phys. III France, 2 9 (1992) 1741-1748DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1992209
