Formalisme rationnel le la méthode de détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X: application aux couches minces et multicouches K. F. Badawi, C. Kahloun et J. GrilhéJ. Phys. III France, 3 6 (1993) 1183-1188DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1993108
