Calcul simplifié du rendement de collecte du courant induit par un faisceau d'électrons (EBIC). Application à la caractérisation de diodes AI-Si p et Si n+ p J.-L. MauriceJ. Phys. III France, 3 3 (1993) 603-618DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1993152
