Mesure par diffraction des rayons X des microdéformations dans des films minces texturés d'AuN. Durand, L. Bimbault, K. F. Badawi et Ph. GoudeauJ. Phys. III France, 4 6 (1994) 1025-1032DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1994183
