Journal de Physique III

On quantitative mapping of EL2 concentration in semi-insulating GaAs wafers

U. V. Desnica, B. G. Petrović, M. Skowronski et M. C. Cretella

J. Phys. III France, 1 9 (1991) 1481-1487

DOI: 10.1051/jp3:1991205

U. V. Desnica

B. G. Petrović

M. Skowronski

M. C. Cretella

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