Journal de Physique III

In-Situ Survey System of Resistive and Thermoelectric Properties of Either Pure or Mixed Materials in Thin Films Evaporated Under Ultra High Vacuum

L. Lechevallier, J.-Y. Le Huerou, G. Richon, J.-M. Sarrau et J. Gouault

J. Phys. III France, 5 4 (1995) 409-418

DOI: 10.1051/jp3:1995136

L. Lechevallier

J.-Y. Le Huerou

G. Richon

J.-M. Sarrau

J. Gouault

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