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Surface potential determination in metal‐oxide‐semiconductor capacitors
J. M. Moragues, E. Ciantar, R. Jérisian, B. Sagnes and J. Oualid Journal of Applied Physics 76(9) 5278 (1994) https://doi.org/10.1063/1.357178
Correlation of the leakage current and charge pumping in silicon on insulator gate-controlled diodes
K. Seghir, S. Cristoloveanu, R. Jerisian, J. Oualid and A.-J. Auberton-Herve IEEE Transactions on Electron Devices 40(6) 1104 (1993) https://doi.org/10.1109/16.214736
Two‐dimensional modelling and characterization of gate‐to‐drain overlap contribution on the leakage current of a MOSFET, used as a GCD
E. Ciantar, S. Burgniard, R. Jérisian and J. Oualid Quality and Reliability Engineering International 9(4) 337 (1993) https://doi.org/10.1002/qre.4680090417
Effects of high field electron injection into the gate oxide of P-channel metal–oxide–semiconductor transistors
J. M. Moragues, J. Oualid, R. Jerisian and E. Ciantar Journal of Applied Physics 74(8) 5078 (1993) https://doi.org/10.1063/1.354292