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Article cité :

Diffusion in phthalocyanine thin film layers: study by AES, EELS, EPES and electrical measurements

M. Gamoudi, O. El Beqqali, M. Benkaddour, M. Al Sadoun, G. Guillaud, F. Miloua, B. Khelifa, L. El Ourzaz, C. Jardin

J. Phys. III France, 1 12 (1991) 1993-2000

DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1991246

Citations de cet article :

Elastic backscattering of electrons from polycrystalline tungsten and determination of electron inelastic mean free path

F. Gołek and W. Doliński
Physica Status Solidi (a) 151 (2) K37 (1995)
https://doi.org/10.1002/pssa.2211510232

Contribution of EPES in the study of materials

C. Jardin, G. Gergely and B. Gruzza
Materials Chemistry and Physics 32 (2) 197 (1992)
https://doi.org/10.1016/0254-0584(92)90277-F

Some practical applications of elastic peak electron spectroscopy

C. Jardin, G. Gergely and B. Gruzza
Surface and Interface Analysis 19 (1-12) 5 (1992)
https://doi.org/10.1002/sia.740190105