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Influence of dislocations on dark current of multicrystalline silicon N⁺ P junction

H. El Ghitani, M. Pasquinelli

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EBIC/PL investigations of dislocation network produced by silicon wafer direct bonding

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Influence of Dislocations onI-V Characteristics of Schottky Diodes Prepared on n-Type 6H-SiC

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Electrical characterization of GaN p-n junctions with and without threading dislocations

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