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Article cité :

Conductivity and mobility contactless measurements of semiconducting layers by microwave absorption at 35 GHz

E. Coué, J. P. Chausse, H. Robert, F. Barbarin

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DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1994160

Citations de cet article :

Conductivity measurement using 3D printed re-entrant cavity resonator

Ali Musa Mohammed, Yi Wang, Talal Skaik, Sheng Li and Moataz Attallah
Measurement Science and Technology 33 (5) 055017 (2022)
https://doi.org/10.1088/1361-6501/ac5134

Microwave method for the characterization of transport parameters of heterostructures and narrow gap semiconductor films

T.I. Baturina, P.A. Borodovski, S.A. Buldygin and S.A. Studenikin
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https://doi.org/10.1016/S0921-5107(96)01812-0

Microwave technique for measurements of electron mobility in p-CdxHg1-xTe

P.A. Borodovski, S.A. Buldygin and S.A. Studenikin
Infrared Physics & Technology 37 (4) 513 (1996)
https://doi.org/10.1016/1350-4495(95)00076-3