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Correlation between structure, microstructure, and ferroelectric properties of PbZr[sub 0.2]Ti[sub 0.8]O[sub 3] integrated film: Influence of the sol-gel process and the substrate
Nicole Floquet, Jérôme Hector and Philippe Gaucher Journal of Applied Physics 84(7) 3815 (1998) https://doi.org/10.1063/1.368560