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Article cité :

Real Time, In Situ Curvature Measurements of Epitaxial YBCO Films on MgO

D. Boyd, A. Tripathi, M. Gallivan, et al.
MRS Proceedings 616 109 (2000)
https://doi.org/10.1557/PROC-616-109

Microstructure imaging of the YBCO thin film/MgO substrate interface: HRTEM and Fourier analysis of the Moiré fringe pattern

S Auzary, F Pailloux, M.F Denanot and R.J Gaboriaud
Thin Solid Films 319 (1-2) 163 (1998)
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(97)01114-0