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Citations de cet article :

Nondestructive mapping of GaAs wafers from measurement of magnetoresistance effect using a novel microwave device

N. Belbounaguia, C. Druon, P. Tabourier and J.M. Wacrenier
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 43 (1) 24 (1994)
DOI: 10.1109/19.286350
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Microwave device for non-destructive magnetoresistance measurement of semiconducting layers

C. Druon, N. Belbounaguia, P. Tabourier and J.M. Wacrenier
Materials Science and Engineering: B 20 (1-2) 203 (1993)
DOI: 10.1016/0921-5107(93)90428-P
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