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Citations de cet article :

TEM measurement of strain in coherent quantum heterostructures

Peter D. Miller, Chuan-Pu Liu and J. Murray Gibson
Ultramicroscopy 84 (3-4) 225 (2000)
DOI: 10.1016/S0304-3991(00)00036-X
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Convergent beam electron diffraction for strain determination at the nanoscale

F. Houdellier, C. Roucau and M.-J. Casanove
Microelectronic Engineering 84 (3) 464 (2007)
DOI: 10.1016/j.mee.2006.10.063
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Quantitative characterization of self-assembled coherent islands

Chuan-Pu Liu and J.Murray Gibson
Thin Solid Films 424 (1) 2 (2003)
DOI: 10.1016/S0040-6090(02)00896-9
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Investigation of strain distribution in LOCOS structures by dynamical simulation of LACBED patterns

Feng Wu, Aldo Armigliato, Roberto Balboni and Stefano Frabboni
Ultramicroscopy 80 (3) 193 (1999)
DOI: 10.1016/S0304-3991(99)00112-6
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Quantitative analysis of HOLZ line splitting in CBED patterns of epitaxially strained layers

F. Houdellier, C. Roucau, L. Clément, J.L. Rouvière and M.J. Casanove
Ultramicroscopy 106 (10) 951 (2006)
DOI: 10.1016/j.ultramic.2006.04.011
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Measuring interface strains at the atomic resolution in depth using x-ray Bragg-surface diffraction

W. C. Sun, H. C. Chang, B. K. Wu, et al.
Applied Physics Letters 89 (9) 091915 (2006)
DOI: 10.1063/1.2345023
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