Journal de Physique III

Mesure par diffraction des rayons X des microdéformations dans des films minces texturés d'Au

N. Durand, L. Bimbault, K. F. Badawi et Ph. Goudeau

J. Phys. III France, 4 6 (1994) 1025-1032

DOI: 10.1051/jp3:1994183

N. Durand

L. Bimbault

K. F. Badawi

Ph. Goudeau

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