Effet de la température sur la réflectivité du silicium oxydé : détermination expérimentale de la sensibilité relative ; application à la mesure sans contact de la température à la surface d'un thyristor GTO en commutation
, et
J. Phys. III France, 6 2 (1996) 279-300
DOI: 10.1051/jp3:1996123