Journal de Physique III

Caractérisation électrique non destructive de couches semiconductrices par mesures d'effet Hall en hyperfréquences

P. Tabourier, C. Druon et J. M. Wacrenier

J. Phys. III France, 2 5 (1992) 805-819

DOI: 10.1051/jp3:1992160

P. Tabourier

C. Druon

J. M. Wacrenier

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