DOI: 10.1051/jp3:1997139
J. Phys. III France 7 (1997) 517-527

Characterization of Ordered 3D Arrays of Ag ₂S Nanocrystallites

L. Motte^{1, 2}, F. Billoudet¹, D. Thiaudière³, A. Naudon³ and M.-P. Pileni<sup>1, 2

1</sup>  Laboratoire S.R.S.I. URA CNRS 1662, Université P. et M. Curie (Paris VI), BP 52, 4 place Jussieu, 75231 Paris Cedex 05, France
²  C.E.A.- C.E.N. Saclay, DRECAM., S.C.M., 91191 Gif-sur-Yvette Cedex, France
³  Université de Poitiers, U.F.R Sciences, bâtiment SP2MI, Laboratoire de Métallurgie Physique URA CNRS 131, bd 3, Téléport 2, BP 179, 86960 Futuroscope Cedex, France

(Received 8 August 1996, revised 14 January 1997, accepted 20 January 1997)

Abstract
Reverse micelles have been used to synthetize 5.6 nm silver sulfide particles. These nanoparticles are coated with dodecanethiol, extracted from reverse micelles and then dissolved in heptane. The extracting process induces a size selection with a decrease in the polydispersity from 30% to 14%. By leaving a drop of a solution on any support, or immerse the support in the solution, mono and multilayers made of nanosized particles are formed. The monolayer is arranged in a hexagonal network whereas the 3D multilayers are arranged in a face centered cubic structure. From T.E.M. (Transmission Electron Microscopy) and G.I.S.A.X.S (Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering) techniques morphological information is provided.

Résumé
Dans cet article, la préparation et la caractérisation de réseaux ordonnés à deux et trois dimensions de nanocristallites de sulfure d'argent sont présentées. La morphologie des réseaux est étudiée à l'aide de deux techniques : la microscopie électronique à transmission et la diffusion des rayons X aux petits angles sous incidence rasante. La microscopie électronique met en évidence un empilement de nanoparticules selon une structure cubique à faces centrées. La distance moyenne entre particules et le nombre de couches formant la structure tridimensionnelle sont déterminés.

© Les Editions de Physique 1997