Numéro |
J. Phys. III France
Volume 2, Numéro 9, September 1992
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Page(s) | 1623 - 1644 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1992203 |
J. Phys. III France 2 (1992) 1623-1644
Stability of an injection-locked DFB 1.5
m semiconductor laser
J.-Ph. Bouyer and Ch. Bréant Laboratoire Lasers Ultra-Stables, E.T.C.A., 16 bis av. Prieur de la Côte d'Or, 94114 Arcueil Cedex, France
(Received 5 December 1991, accepted 11 April 1992)
Abstract
The stability of an injection-locked DFB 1.5
m diode laser is studied systematically. A master diode laser with high spectral purity is used to injection lock a similar
diode laser. The spectral purity of the master laser is successfully transmitted to the slave diode laser. A numerical simulation
fits the experimental results and gives exact simple interpretations of the behavior of the slave diode laser. Three regimes
occur at different injection levels. The relaxation hole appearing on the locking range pattern, for medium and strong injection
regimes, is fully explained and leads to a complete explanation of the stability of the slave diode laser. As a consequence,
two possible determinations of the Henry
factor [1] are presented, with a 5 % precision for one of them.
Résumé
La stabilité d'un laser à semiconducteur DFB à 1,5
m verrouillé par injection est étudiée de façon systématique. Une diode laser maître à faible bruit de fréquence est utilisée
pour injecter une diode laser du même type. La pureté spectrale du laser
maître est intégralement transmise à la diode esclave. Une simulation numérique rend compte des résultats expérimentaux et
permet d'obtenir une interprétation simple du comportement de la diode esclave. Trois régimes se manifestent à plusieurs niveaux
d'injection. Le trou de relaxation apparaissant dans la plage d'accrochage, dans les cas d'injection moyenne et forte, s'interprète
totalement et permet d'expliquer complètement la stabilité de la diode laser esclave. Comme conséquence, deux déterminations
du facteur
de Henry [1] sont exposées, l'une d'elles avec une précision de 5 %.
© Les Editions de Physique 1992