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Characterization of thin films and multilayers by specular X-ray reflectivity

W. M. Plotz, K. Lischka

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Citations de cet article :

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Genetic algorithm for solution of the inverse problem in high-resolution X-ray reflectometry

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Structural characterization of interfaces in the AlxGa1−x As/GaAs/AlxGa1−x As heterostructures by high-resolution X-ray reflectometry and diffractometry

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An investigation of X-ray reflectivity and diffraction from electroluminescent short-period Si-Ge superlattice structures

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