Caractérisation des états d'interface dans des transistors MOS submicroniques par différentes techniques de pompage de charge Jean-Luc Autran, Frédéric Seigneur, Jacques Delmas, Carole Plossu et Bernard BallandJ. Phys. III France, 3 10 (1993) 1947-1961DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1993252
