Issue
J. Phys. III France
Volume 1, Number 11, November 1991
Page(s) 1815 - 1821
DOI https://doi.org/10.1051/jp3:1991234
DOI: 10.1051/jp3:1991234
J. Phys. III France 1 (1991) 1815-1821

Phenomenologie et caractérisation des supraconducteurs à haute $T_{\rm c}$

P. Peyral1, C. Lebeau1, J. Rosenblatt1, J. P. Burin1, A. Raboutou1, Q. Pena2 and C. Perrin2

1  Laboratoire de Physique des Solides URA 786 au CNRS, INSA, B.P. 14A, F-35043 Rennes Cedex, France
2  Laboratoire de Chimie Minérale B, URA 754 au CNRS, Avenue du Général Leclerc, F35042 Rennes Cedex France

((Reçu le 25 mars 1991, accepté le 10 juillet 1991))

Abstract
Transport properties of high $T_{\rm c}$ superconductors depend on the microscopic structure of the ideal material and on the mesoscopic characteristics of each sample. From an experimental point of view it is essential to separate their efrects. This can be done by describing quantitatively the resistive transition in zero field as a two-step process : a superconducting intragranular transition and an intergranular coherence transition. Well-known theories of critical fluctuations and Gaussian fluctuations allow us to obtain important characteristic parameters of the intragranular material such as the critical temperature, the normal resistivity and the width of the critical region.

Résumé
Les propriétés de transport des supraconducteurs dépendent à la fois de la structure microscopique du matériau idéal et des caractéristiques mésoscopiques (la granularité) de chaque échantillon. Du point de vue expérimental il est essentiel de pouvoir séparer leurs effet respectifs. Nous parvenons à cette séparation en décrivant quantitativement la transition résistive sous champ nul en deux étapes: supraconductrice intragranulaire et cohérente intergranulaire. Des théories connues des fluctuations critiques et gaussiennes nous permettent alors d'obtenir des paramètres importants pour la caractérisation du matériau intragranulaire, comme sa température critique, sa résistivité normale et la largeur de sa région critique.



© Les Editions de Physique 1991