Issue |
J. Phys. III France
Volume 4, Number 7, July 1994
|
|
---|---|---|
Page(s) | 1231 - 1242 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1994198 |
J. Phys. III France 4 (1994) 1231-1242
Fundamentals of sol-gel dip-coating
C. Jeffrey Brinker and Alan J. HurdSandia National Laboratories, Advanced Materials Laboratory, 1001 University Blvd, SE ; Suite 100, Albuquerque, NM 87106, U.S.A.
(Received 23 November 1993, revised 14 March 1994, accepted 29 March 1994)
Abstract
During the process of dip-coating, the substrate is withdrawn
from the sol at a constant rate. After several seconds, the process becomes
steady. The entrained film thins by evaporation of solvent and gravitational
draining. Because the shape of the depositing film remains constant with
respect to the reservoir surface, it is possible to use analytical methods such
as ellipsometry and fluorescence spectroscopy to characterize the depositing
film in situ. The microstructure and properties of the film depend on the
size and structure of the inorganic sol species, the magnitude of the capillary
pressure exerted during drying, and the relative rates of condensation and
drying. By controlling these parameters, it is possible to vary the porosity of
the film over a wide range.
Résumé
Pendant l'opération de " dip-coating ", le substrat est retiré
du sol à vitesse constante. La couche s'amincit du fait de l'évaporation du
solvant et de l'écoulement gravitationnel. Après plusieurs secondes, le
processus atteint un régime stationnaire. Le profil du film déposé reste alors
constant par rapport à la surface du sol. On peut le caractériser in situ
par des méthodes optiques telles que l'ellipsométrie et la spectroscopie de
fluorescence. La texture et les propriétés de la couche dépendent de la taille
et de la structure (par exemple de la dimension fractale) des espèces en
solution, de l'importance de la tension capillaire pendant le séchage, et des
cinétiques de condensation. En contrôlant ces paramètres, on peut faire varier
la porosité de la couche dans une large gamme.
© Les Editions de Physique 1994