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J. Phys. III France
Volume 4, Number 11, November 1994
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Page(s) | 2173 - 2182 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1994263 |
J. Phys. III France 4 (1994) 2173-2182
Croissance de PrBa 2CU 3-xGa xO 7 en ablation laser pulsée : application aux superréseaux (YBa 2Cu 3O 7) M/(PrBa 2CU 3-xGa xO 7) N
D. Ravelosona, J. P. Contour and C. SantESPCI, Laboratoire de Physique du Solide, C.N.R.S. UPR 05, 10 rue Vauquelin, 75231 Paris Cedex 05, France
(Reçu le 3 février 1994, révisé et accepté le 16 juin 1994)
Abstract
PrBa
2Cu
3-xGa
xO
7 thin films up to
x = 0.2 and YBa
2Cu
3O
7/PrBa
2CU
2.8Ga
0.2O
7 superlattices have been grown by pulsed laser deposition (PLD) on
SrTiO
3 substrate. At a growth temperature of 785
C, the multilayers have (
c-axis normal to the substrate surface and satellite peaks have been observed up to
on X-ray diffraction spectra. At a lower growth temperature the structure becomes oriented with
a-axis normal to the growth interface. Secondary-ion mass spectrometry reveals no interdiffusion beetween Y and Pr and no diffusion
of Ga into the YBa
2Cu
3O
7 layer. The RBS minimum yield indicates the high epitaxial relation beetween the substrate and the superlattice.
Résumé
L'oxyde PrBa
3Cu
3-xGa
xO
7 (PBCGO) a l'avantage de présenter une résistivité à 77 K qui est de 2 à 3 ordres de grandeur plus élevée que celle de PrBa
2CU
3O
7 (PBCO). La mise au point des conditions de croissance de films de PBCGO (
x = 0,2) sur SrTiO
3 par ablation laser pulsée a permis la préparation de superréseaux (YBa
2Cu
3O
7)
M/(PrBa
2CU
3-xGa
xO
7)
N avec l'axe
c perpendiculaire ou parallèle au plan du substrat en fonction de la température de croissance. Les profils obtenus par spectrométrie
de masse d'émission ionique secondaire ne révèlent ni interdiffusion entre Y et Pr, ni diffusion du gallium vers la couche
de YBCO. Les rendements de canalisation mesurés en RBS sont caractéristiques d'une bonne relation épitaxiale entre le substrat
et le superréseau.
© Les Editions de Physique 1994