Détermination de l'émissivite à haute température à l'aide de systemes à ribres optiques équipes d'hémispheres réflecteurs

(Reçu le 5 novembre 1990, révisé le 21 mai 1991, accepté le 27 mai 1991)

Abstract
A device and a direct method for measuring directional emissivity within a spectral bandpass are presented. The method applies to opaque and diffuse surfaces at high temperatures. When the selected spectral bandpass is large, the measured emissivity gets closer to the total one and conversely, it tends to approach the spectral one when a pseudo-monochromatic bandpass is chosen. Radiances are on one hand experimentally measured with a radiometer and on the other hand calculated from the sample temperature. The original point of the method lies in the sample temperature measurement, which is performed with a photonic two-colour pyrometer. The pyrometer probe consists of a unique SiO ₂/SiO ₂ optical fibre associated with a reflecting hemisphere. The samples are heated with concentrated solar radiation.

Résumé
Nous présentons un dispositif et une méthode directe adaptée à la mesure de l'émissivité directionnelle dans une bande spectrale , pour des corps opaques et diffusants à haute température. La bande spectrale peut être sélectionnée pour un large domaine, l'émissivité mesurée se rapproche alors de l'émissivité totale ou bien sur un domaine pseudo-monochromatique, l'émissivité correspond dans ce cas à une émissivité spectrale. Les flux radiatifs sont déterminés expérimentalement par un radiomètre et calculés à partir de la mesure de la température de l'échantillon. La mesure de la température, point original de la méthodologie, est réalisée à l'aide d'un pyromètre photonique bicolore muni d'une sonde à fibre optique toute silice associée à un hémisphère réflecteur. Les échantillons sont chauffés par rayonnement solaire concentré.