Numéro |
J. Phys. III France
Volume 3, Numéro 9, September 1993
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Page(s) | 1719 - 1728 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1993232 |
J. Phys. III France 3 (1993) 1719-1728
Monte Carlo study of 50 nm-long single and dual-gate MODFETs: suppression of short-channel effects
P. Dollfus, P. Hesto, S. Galdin and C. BrissetInstitut d'Electronique Fondamentale, CNRS URA22, Université Paris XI, Bâtiment 220, 91405 Orsay Cedex, France
(Received 10 November 1992, revised 4 February 1993, accepted 15 February 1993)
Abstract
A theoretical study of 50 nm-Single and Dual-Gate MODFETs using Monte Carlo
simulation is reported. The introduction of a second gate, whose potential is
fixed to a positive value, between the control-gate and the drain allows to
efficiently provide against short-channel effects that occur in ultra-short
single-gate MODFET. We describe the physical operating of these devices
and especially the role of the second gate. The dual-gate MODFET exhibits
an excellent saturation behaviour compared with single-gate MODFETs together
with high values of transconductance
and current gain cutoff
frequency
. This is resulting in a large improvement in the
to
, ratio.
Résumé
Nous présentons une étude théorique, à partir de simulations Monte Carlo,
de MODFETs à simple et double grille de 50 nm de longueur. L'introduction
d'une seconde grille située entre la grille de commande et le drain et dont
le potentiel est fixé à une valeur positive permet de s'affranchir des effets
de canal court qui apparaissent dans les MODFETs à très courte longueur de grille.
Nous décrivons le fonctionnement physique de ces dispositifs et en particulier le
rôle de la seconde grille. Le MODFET bi-grille présente d'excellentes caractéristiques
de drain en saturation tout en offrant des valeurs élevées de transconductance
et de fréquence de coupure
. Il en résulte une amélioration
importante du rapport
.
© Les Editions de Physique 1993