Application des ondelettes à l'analyse de texture et à l'inspection de surface industrielle

(Reçu le 7 janvier 1993, révisé le 26 mai 1993, accepté le 30 août 1993)

Abstract
This paper presents a method of texture analysis based on multiresolution wavelets analysis. We discuss the problem of theoretical and experimental choice of the wavelet. Statistical modelling of wavelet images is treated and it results in considering statistical distribution to be a generalized Gaussian law. An algorithm for texture classification is developed with respect of the variances of different wavelet images. An industrial application of this algorithm illustrates its quality and proves its aptitude for automation of certain tasks in industrial control.

Résumé
Nous présentons une méthode d'analyse de texture fondée sur l'analyse multirésolution par ondelettes. Nous discutons du problème du choix théorique et expérimental de l'ondelette. Le problème de la modélisation statistique des images d'ondelettes est traité et aboutit à considérer la distribution statistique comme une loi de Gauss généralisée. Un algorithme de classification de texture est construit à l'aide de la variance des différentes images d'ondelettes. Enfin, une application industrielle de cet algorithme illustre ses qualités et démontre son aptitude à l'automatisation de certaines tâches de contrôle industriel.