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J. Phys. III France
Volume 3, Numéro 11, November 1993
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Page(s) | 2133 - 2148 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1993266 |
J. Phys. III France 3 (1993) 2133-2148
Application des ondelettes à l'analyse de texture et à l'inspection de surface industrielle
D. Wolf and R. HussonCentre de Recherche en Automatique de Nancy (CNRS URA 821), 2 av. de la Forêt de Haye, 54500 Vandoeuvre, France
(Reçu le 7 janvier 1993, révisé le 26 mai 1993, accepté le 30 août 1993)
Abstract
This paper presents a method of texture analysis based on multiresolution
wavelets analysis. We discuss the problem of theoretical and experimental
choice of the wavelet. Statistical modelling of wavelet images is treated and it
results in considering statistical distribution to be a generalized Gaussian law.
An algorithm for texture classification is developed with respect of the variances
of different wavelet images. An industrial application of this algorithm
illustrates its quality and proves its aptitude for automation of certain
tasks in industrial control.
Résumé
Nous présentons une méthode d'analyse de texture fondée sur l'analyse
multirésolution par ondelettes. Nous discutons du problème du choix théorique
et expérimental de l'ondelette. Le problème de la modélisation statistique des
images d'ondelettes est traité et aboutit à considérer la distribution statistique
comme une loi de Gauss généralisée. Un algorithme de classification de texture est
construit à l'aide de la variance des différentes images d'ondelettes. Enfin,
une application industrielle de cet algorithme illustre ses qualités et démontre
son aptitude à l'automatisation de certaines tâches de contrôle industriel.
© Les Editions de Physique 1993