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J. Phys. III France
Volume 4, Numéro 10, October 1994
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Page(s) | 1811 - 1831 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1994242 |
J. Phys. III France 4 (1994) 1811-1831
Benefits of HREM for the study of metal-ceramic interfaces
T. Epicier and C. EsnoufGroupe de Métallurgie Physique et de Physique des Matériaux, URA CNRS 341, INSA de Lyon, Bât. 502, 69621 Villeurbanne Cedex, France
(Received 28 July 1994, accepted 2 August 1994)
Abstract
The aim of the present paper is to discuss the advantages of High Resolution Electron Microscopy (HREM) studies of metal-ceramic
interfaces. A review of methods available for the production of interfaces suitable for observation in a transmission electron
microscopy, together with a litterature survey of recent relevant studies will be presented first. A selection of examples
will serve to illustrate the main points that HREM allows to be tackled : detection of nanometersize intermediate compounds
(Ni/MgO, NiO/Pt, MgO/Nb
systems), accomodation of steps at the ceramic surface (Fe/Al
2O
3, Au/MgO, Cu/MnO systems), characterization of misfit dislocations (e.g., Cu/MgO), effect of the image force on the exact
position of the dislocation cores, lattice expansion due to elastic mismatch (e.g., Pd/MgO), determination of the chemical
nature of the terminating atomic planes (e.g., Pd/Al
2O
3). An introductive discussion of specific problems in the interpretation of HREM images (i.e., numerical image analysis and
computer simulations) will be conducted and illustrated with the case of incoherent Fe/Al
2O
3 interfaces.
Résumé
Cet article est consacré à la discussion de l'intérêt présenté par la Microscopie Electronique en Transmission à Haute Résolution
(METHR) dans l'étude des interfaces métalcéramique. Une revue des méthodes d'obtention d'interfaces adaptées à l'observation
au microscope électronique à transmission, ainsi que les résultats d'études récentes sur le sujet, seront d'abord présentés.
Une sélection d'exemples ont ensuite été choisis afin d'illustrer les principaux points que la METHR peut aborder, à savoir
: détection d'éventuels composés intermédiaires à l'échelle du nanomètre (cas des systèmes Ni/MgO, NiO/Pt, MgO/Nb), accommodation
des marches présentes en surface de la céramique (systèmes Fe/Al
2O
3, Au/MgO, Cu/MnO), caractérisation des dislocations de cohérence (exemple du couple Cu/MgO), influence de la force image sur
la position des dislocations, dilatation du réseau du métal causée par le désaccord paramétrique (exemple du couple Pd/MgO),
détermination de la nature chimique des plans atomiques terminaux (Pd/Al
2O
3). Une discussion des problèmes spécifiques de l'interprétation des images de METHR (principalement, l'analyse numérique des
images et les simulations) sera menée et illustrée par le cas des interfaces incohérentes dans le système Fe/Al
2O
3.
© Les Editions de Physique 1994