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Numéro
J. Phys. III France
Volume 4, Numéro 11, November 1994
Page(s) 2259 - 2270
DOI https://doi.org/10.1051/jp3:1994276
DOI: 10.1051/jp3:1994276
J. Phys. III France 4 (1994) 2259-2270

Mesure de la conductivité complexe et de la résistance de surface de films supraconducteurs YBaCuO

F. Mehri1, P. Lepercq1, J. C. Carru1, E. Playez1, C. Thivet2, A. Perrin2 and D. Chambonnet3

1  IEMN-UMR CNRS 9929, Avenue Poincaré, BP. 69, 59652 Villeneuve d'Ascq Cedex, France
2  Université de Rennes 1, Laboratoire de Chimie du Solide et Inorganique Moléculaire, Avenue du Général Leclerc, 35042 Rennes Cedex, France
3  Alcatel Alsthom Recherche, route de Nozay, 91460 Marcoussis, France

(Reçu le 3 février 1994, révisé le 6 juin 1994, accepté le 9 juin 1994)

Abstract
We describe in this paper 2 non destructive measurement methods in microwaves (18-26 GHz) well-suited to the characterization of conducting and superconducting thin films. From the experimental values we show that it is possible to infer, without any hypothesis, the following parameters : $\sigma^*$, $R_{\rm s}$, $X_{\rm s}$ and $\lambda$ between 20 K and 300 K. Some examples are given with metallic and superconducting samples from various origins. At 22 GHz and below 75 K, YBaCuO films deposited on MgO have a surface resistance inferior to bulk copper one.

Résumé
Dans cet article nous décrivons 2 méthodes de mesure non destructives adaptées à la caractérisation en microondes (18-26 GHz) de films minces conducteurs et supraconducteurs. A partir des valeurs expérimentales nous montrons qu'il est possible d'en déduire les grandeurs caractéristiques à savoir $\sigma^*$, $R_{\rm s}$, $X_{\rm s}$ et $\lambda$ entre 20 K et 300 K. Nous donnons des exemples de caractérisation de films métalliques et supraconducteurs provenant de différentes origines. A 22 GHz, en dessous de 75 K, les films YBaCuO déposés sur MgO ont une résistance de surface inférieure à celle du cuivre massif.



© Les Editions de Physique 1994