Numéro |
J. Phys. III France
Volume 5, Numéro 6, June 1995
|
|
---|---|---|
Page(s) | 743 - 756 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1995158 |
J. Phys. III France 5 (1995) 743-756
Étude de l'impact d'une perturbation électromagnétique sur le fonctionnement de composants logiques électroniques
Catherine Maréchal1, Marco Klingler1, Marc Heddebaut1 and Bernard Demoulin21 INRETS (Institut National de Recherche sur les Transports et leur Sécurité) LÉOST (Laboratoire Électronique Ondes et Signaux pour les Transports), 20 rue Élisée Reclus, 59650 Villeneuve d'Ascq, France
2 USTL-LRPE (Université des Sciences et Technologies de Lille - Laboratoire de Radio-Propagation et Électronique), 59650 Villeneuve d'Ascq, France
(Reçu le 15 juin 1994, accepté le 22 février 1995)
Abstract
This paper deals with the susceptibility of digital electronic components depending on the components' technology. The first
part of this paper will present the results obtained on a simple circuit under test composed of two digital gates interconnected
together. The second part will deal with a practical case study of a printed circuit board representing an electronic safety
function on the automatic metro of Lille based on an active material redundancy.
Résumé
Nous nous intéressons dans cet article à la susceptibilité électromagnétique de composants électroniques logiques. Plusieurs
techniques de réalisation de ces composants sont passées en revue. La première partie est consacrée à l'étude d'un dispositif
sous test simple composé de deux portes NAND connectées en cascade. La simplicité de ce dispositif facilite la compréhension
du processus de perturbation. La deuxième partie est consacrée à l'étude d'une carte électronique inspirée d'une carte réalisant
une fonction de sécurité sur le métro automatique de Lille. Ce travail s'apparente à l'étude d'un cas réel et pratique. La
sûreté de fonctionnement est ici fondée sur l'utilisation d'une redondance matérielle de la fonction suivie d'un comparateur
de signaux.
© Les Editions de Physique 1995