Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Possiblités de mesure quantitative avec un appareillage de réflectométrie X utilisant le mode angulaire dispersif

J. Chihab, A. Naudon

J. Phys. III France, 2 12 (1992) 2291-2300

DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1992246

Citations de cet article :

Quick X-ray reflectivity of spherical samples

Krassimir Stoev and Kenji Sakurai
Powder Diffraction 28 (2) 105 (2013)
https://doi.org/10.1017/S0885715613000134

Aberration effects in quick X-Ray reflectivity of curved samples

Krassimir Stoev and Kenji Sakurai
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 24 012014 (2011)
https://doi.org/10.1088/1757-899X/24/1/012014

In-situ X-ray reflectivity measurement of polyvinyl acetate thin films during glass transition

Mari Mizusawa and Kenji Sakurai
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 24 012013 (2011)
https://doi.org/10.1088/1757-899X/24/1/012013

A motionless X-ray reflectometer for air/liquid interfaces based on Naudon's design: example of application

P.-A. Albouy and P. Valerio
Supramolecular Science 4 (3-4) 191 (1997)
https://doi.org/10.1016/S0968-5677(97)00004-7