Journal de Physique III

Influence of roughness profile on reflectivity and angle-dependent X-ray fluorescence

D.K.G. de Boer, A.J.G. Leenaers et W.W. van den Hoogenhof

J. Phys. III France, 4 9 (1994) 1559-1564

DOI: 10.1051/jp3:1994222

D.K.G. de Boer

A.J.G. Leenaers

W.W. van den Hoogenhof

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