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J. Phys. III France
Volume 5, Numéro 2, February 1995
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Page(s) | 135 - 143 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp3:1995115 |
J. Phys. III France 5 (1995) 135-143
Nucléation et croissance de films
déposés par ablation laser sur substrat de MgO(001)
D. Keller1, 2, A. Gervais1, D. Chambonnet2, C. Belouet2 and C. Audry2
1 Laboratoire de Minéralogie-Cristallographie Paris VI-VII, Tour 16, 4 place Jussieu, 75252 Paris Cedex 05, France
2 Alcatel Alsthom Recherche, route de Nozay, 91460 Marcoussis, France
(Reçu le 1$^{er}$ septembre 1994, accepté le 9 novembre 1994)
Abstract
In the field of superconducting devices devoted to microwave applications, the crystalline texture of high quality thin films
based on YBa
2Cu
3O
is of primary importance. This study presents the formation of this texture on MgO substrates with the nucleation and growth
steps up to a film thickness of 300 nm as observed by means of AFM, HRTEM and XRD. The influence of deposition temperature
on the growth mode is shown and a nucleation/growth model is discussed. The minimum roughness of
textured films, 300 nm thick and
mm
2 in size is as slow as 2 nm.
Résumé
Dans le cadre de la réalisation de composants supraconducteurs de haute qualité à base du composé YBa
2Cu
3O
destinés aux applications en hyperfréquences, le contrôle de la texture cristalline des films est de première importance.
La formation de celle-ci sur substrat MgO est étudiée depuis la nucléation jusqu'à une épaisseur de 300 nm au moyen de la
microscopie à force atomique, de la microscopie électronique en transmission à haute résolution et de la diffraction des rayons
X. L'influence de la température de dépôt sur le mode de croissance est abordée et un modèle de nucléation/croissance est
discuté. La rugosité minimale des films d'épaisseur 300 nm et de dimensions
mm
2 de texture
est voisine de 2 nm.
© Les Editions de Physique 1995