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Etude de l'effet de la température de dépôt ou de recuit sur la formation de l'interface Au/GaSb(100) par diffraction d'électrons lents et spectroscopies d'électrons Auger ou de pertes d'énergies p. 483 M. Rouanet, W. Oueini, M. Nouaoura, N. Bertru, J. Bonnet and L. Lassabatere DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995141 AbstractPDF (640.9 KB)References
Determination of PHEMT's Microwave Noise Parameters Only by Means of the Small-Signal Equivalent Circuit and Experimental Comparisons p. 495 D. Gasquet, F. Barberousse, M. de Murcia, W. de Raedt and C. Claeys DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995142 AbstractPDF (543.3 KB)References
LF Excess Noise of AlGaAs/GaAs and AlGaAs/InGaAs/GaAs HEMTs p. 509 N. Saysset, C. Maneux, N. Labat, A. Touboul, Y. Danto and J.M. Dumas DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995134 AbstractPDF (424.1 KB)References
Analyse des bruits blancs optique et électrique d'une tête d'émission laser à réaction répartie en présence d'une réinjection optique p. 519 P. Signoret, B. Orsal, J.M. Peransin and R. Aladebra DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995143 AbstractPDF (889.6 KB)References
Utilisation de lasers multi-electrodes en tant que mélangeur hyperfréquence p. 537 R. Hamelin, J.P. Vilcot, J.P. Gouy, D. Decoster, C. Carriere, B. Groussin and V. Cargemel DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995144 AbstractPDF (401.1 KB)References
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Etude physicochimique et structurale de nitrures et d'oxynitrures de silicium très minces formés par traitement thermique rapide p. 557 R. Saoudi, G. Hollinger, M. Pitaval and P. Molle DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995146 AbstractPDF (1.052 MB)References
Determination of Low-Energy Ion Implantation Damage Parameters by an Ellipsometric Method p. 575 U. Müller-Jahreis, P. Thiele, M. Bouafia and A. Seghir DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995147 AbstractPDF (535.4 KB)References
Optimisation des conditions de fonctionnement d'un pilote plasma de 25 kW pour la purification du silicium p. 585 J. Erin, D. Morvan and J. Amouroux DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995148 AbstractPDF (1.211 MB)References
EXPHER (EXperimental PHysics ERror analysis): a Declaration Language and a Program Generator for the Treatment of Experimental Data p. 605 Philippe Weber and Daniel Taupin DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995149 AbstractPDF (990.2 KB)References
Analyse des possibilités de fonctionnement en régime des désexcitation des moteurs à aimants permanents p. 623 Bernard Multon, Jean Lucidarme and Laurent Prévond DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995150 AbstractPDF (949.4 KB)References
A Study on Scaling Symmetrical Condenser-Objective Lenses p. 641 A.S.A. Alamir DOI: https://doi.org/10.1051/jp3:1995151 AbstractPDF (168.4 KB)References